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厚度测量可以使用哪些仪器?测控软件研发推荐

厚度测量可以使用哪些仪器?测控软件研发推荐

【摘要】:
纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。软件测控平台对UI程序界面,实现形式没有要求,也就是说,客户可以根据自己的需要设计任何样式的交互界面。

厚度测量可以使用哪些仪器?

1.纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
2.薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
3.涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。
4.激光测厚仪:利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。
5.X射线测厚仪:主要应用行业于有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
6.超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

测控软件研发推荐

平台简介

软件测控平台对UI程序界面,实现形式没有要求,也就是说,客户可以根据自己的需要设计任何样式的交互界面。

 支持多种测控应用场景。
 跨平台部署。
 自定义UI、拖拽式界面设计。
 支持二次开发,快速实施。
 应用无锁队列、内存数据库、多种设计模式等先进技术,实现测量数据快速刷新。
 丰富的接口设计,支持多种设备接入。
 内嵌高性能通信模块,支持测量数据远程级联。
 微服务架构、模块化设计,支持单机及多机部署,在性能、成本间灵活适配。
 全面、系统贯彻SPC理念,并为其提供必要便利化工具。