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测厚仪的基本原理

测厚仪的基本原理

【摘要】:
厚度本身是一个测量单位,量的大小都是需要测量的,只不过测量方式有些不同,日常生活中用的最多的就是尺子。但是在工业生产中,需要进行实时测量,所以就需要机械化的设备,测厚仪。

厚度本身是一个测量单位,量的大小都是需要测量的,只不过测量方式有些不同,日常生活中用的最多的就是尺子。但是在工业生产中,需要进行实时测量,所以就需要机械化的设备,测厚仪。

激光测厚仪由上、下两个对射的激光位移传感器组成,其基本测量原理如右图“测量原理图”所示。

1中激光位移传感器1和激光位移传感器2以固定间距A相对布置,工作时激光位移传感器1发射一束激光照射被测物的下表面,下表面光斑的漫反射光再通过透镜系统返回到激光位移传感器1内的CCDCMOS芯片上,通过对CCDcmos芯片上光斑的位置分析和计算, 可以得到激光位移传感器1到被测物下表面的实际距离B1;同理可以得到激光位移传感器2到被测物上表面的距离B2。用两个传感器之间的间距A减去两个传感器到被测物上下表面的距离B1B2即可得到被测物的厚度H

2中位移传感器下方设置一个托板,用传感器测出托板与传感器的间距L0,当托板上方放置被测物时,可用传感器测得被测物与传感器的间距L1。将L0L1的信号传输到计算机内装的测量系统后,即可计算(L0-L1)得出被测物的厚度H。在实际应用中,L0的数值将直接写入测量系统(系统还自带L0的校零功能),在被测物放置到托板上后即可得出被测物的厚度。

优势:

激光测厚仪的优点在于它是非接触测量,不会因为磨损而损失精度,尤其适用于在运动中或恶劣环境中进行多点测量。而且,

相对于超声波测厚仪精度更高,相对X射线测厚仪没有辐射污染。因此,激光测厚仪在在线厚度测量方面具有明显的优势。